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          WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀

          型    號:
          所屬分類:X射線工業CT斷層掃描測量儀
          報    價: 市場價:
          分享到:

          Werth*家將X射線掃描成像技術整合到三坐標測量系統,WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀可實現產品無損可視化準確測量,并可選配光學、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內外部所有結構尺寸全面的高精密測量,同時可實現工件材質的缺陷分析。

          WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀的詳細資料:



          WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀

              德國Werth公司是*家將X射線掃描成像技術整合到三坐標測量系統,實現產品無損可視化準確測量,并可選配光學、光纖、探針、激光掃描等多種傳感器。對工件內外部所有結構尺寸全面的高精密測量,同時可實現工件材質的缺陷分析??蓪λ芰?、陶瓷、復合材料、金屬等多種材質制成的產品進行無損尺寸測量和裝配評估等。壓縮測量周期的同時,保證了高品質的要求。Werth工業CT斷層掃描測量儀此機榮獲2005年度歐洲模具設計金獎。


          WERTH X射線工業CT斷層掃描測量儀主要特點:
          ◆  將X射線斷層掃描成像技術整合到三坐標測量系統,實現復雜部件高精度內外尺寸全面測量
          ◆  可選配第二個Z軸,配置其他傳感器(光學、探  針、光纖、激光等)
          ◆ Werth公司技術復合式傳感器技術,進一步保證 CT測量數據更準確
          ◆ 堅固的花崗巖基座,保證機器具有高穩定性
          ◆ 高精密機械軸承技術及線性導軌系統,確保實現zui  高精度的測量
          ◆ 無論從設計還是結構,測量機完全滿足并超出X射線使用安全標準
          ◆ 基于Werth公司優異的圖形處理及3D重構技術,測量速度更快 
          ◆  Werth公司技術的X射線傳感器獨立校準系統
          ◆  Werth公司技術的柵格斷層掃描技術:
                  精密測量微小部件
                  掃描更大尺寸工件,提高分辨率
                  擴展測量范圍
          ◆  測量軟件可快速3D重構,也可進行2D測量
          ◆  測量工件內部尺寸的同時,也可實現材質缺陷分析
          ◆  選用廣泛應用的WinWerth軟件 (德國國家計量院PTB長度標準認證) ,界面友好,操作簡單
          ◆  可使用zui擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對
          ◆  廣泛應用于復雜尺寸測量,首件評估,逆向工程,質量控制等


          Werth工業CT斷層掃描測量儀應用領域:  模具行業、逆向工程、汽車行業、航空航天、精密機械加工、船舶等


          技術參數:

          型    號

          TomoScope

          TomoCheck

          TomoScope

          HV Compact

          TomoScope HV

          zui大測量工件尺寸(直徑)

          90mm

          90mm

          350mm

          350mm

          zui大測量高度

          200mm

          200mm

          350mm

          500mm

          zui大允許誤差 (用CT傳感器)

          (4,5+L/75) µm

          (1,5+L/500) µm

          (4,5+L/75) µm

          (4,5+L/75) µm

          zui大允許誤差(E1:單軸精度)

          (2,5+L/120) µm

          (0,5+L/900)µm

          (2,5+L/120) µm

          (2,5+L/120) µm

                    (E2:平面精度)

          (2,9+L/100) µm

          (0,7+L/600) µm

          (2,9+L/100) µm

          (2,9+L/100) µm

                    (E3:空間精度)

          (4,5+L/75) µm

          (1,5+L/500) µm

          (4,5+L/75) µm

          (4,5+L/75) µm

          X射線源

          130kV(150,190kV可選)

          130kV

          225kV

          225kV(450kV可選)

          X射線探測器像素

          1024x1024

          1024x1024

          1024x1024

          2048x2048

          X射線探測器尺寸

          50x50mm

          50x50mm

          200x200mm

          400x400mm

          分辨率

          0.1µm

          0.1/0.01µm

          0.1µm

          0.1µm

          定位速度

          150mm/s

          60mm/s

          150mm/s

          150mm/s

          加速度

          300mm/s2

          250 mm/s2

          350 mm/s2

          350 mm/s2

          工作臺承重

          2kg

          10kg

          40kg

          40kg

          電源

          230V +/-10%

          3x400V/N/PE

          3x400V/N/PE

          3x400V/N/PE

          氣壓

          7-10bar

          7-10bar

          7-10bar

          7-10bar

          儀器自重

          3000kg

          6000kg

          8500kg

          11000kg



          1). 依據標準ISO 10360和VDI/VDE 2617,使用TP200, WFP測量或CT傳感器選擇同等及更高精度探針修正或光學傳感器選用同等及更高精度探針修正
          2). Temp: 20℃±2k, △=1K/h m≤2kg



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